مقارنة علاقتي "شكل طيف"الخلفية الأشعاعية للمختبر الحاصلتين من استخدام كاشفي HpGe وNaI(Tl)

الملخص

قيس طيفا الخلفية الأشعاعية للمختبر بأشتخدام كاشفي    HpGe وNaI(Tl) "3x3"  واستخدم الطيفان للحصول على علاقتي " شكل طيف " الخلفية الأشعاعية لمدى الطاقة (121.8- 1408)keV المدرج باستخدام المصدر القياسي   .Eu-152  ان علاقتي "شكل الطيف" لكلا الكاشفين تم الحصول عليهما بمطابقة بيانات معدلات العد عند طاقات المصدر Eu-152  المقابلة باستخدام برنامج   MATLAB . العلاقتان كانتا بحدود اسية متشابهة ماعدا قيم المعاملات. ان عامل معدل العد التجريبي   BG(NaI) / BG((Ge)   تم الحصول عليه عند قيم الطاقات المقابلة. ان قيم هذا العامل يمكن استخدامها لأستخلاص معلومات العد لأحد الكاشفين من تلك المعلومة للكاشف الآخر عند شروط القياس المحددة. وطبقاً لهذه النتائج ونتائج باحثين آخرين فان معلومات الكفاءة يمكن الحصول عليها ايضاً.